X射线显微镜具备广阔的拓展能力

　　X射线显微镜凭借其突破性技术和高分辨率探测器，将3DX射线显微镜(XRM)的性能提升至新的高度，为各种尺寸的样品提供亚微米级成像解决方案。保持先进的大样品高分辨率技术优势的同时，该系统可实现高达500nm空间分辨率。该产品通过使用更高分辨率的光学元件，实现分辨率的改善和突破。与此同时，该产品还加入了更多的智能的元素，并且具有更广阔的拓展能力。

　　X射线显微镜应用领域：

　　1. 材料科学，如三维无损分析

　　2. 生命科学，如微观结构成像

　　3. 地球科学，如地质、油气三维成像

　　4. 半导体行业，如电子封装失效分析

　　5. 支持原位实验条件下的三维成像

　　X射线显微镜是一种非侵入性和非破坏性成像技术，在不破坏样品的情况下，利用X射线对样品进行扫描，能够获得扫描样品的一个三维图像，获取内部详尽的三维结构信息。在地学领域，在对表征和定量分析岩石孔隙结构、测量渗流、研 究储碳过程、分析尾矿、大化开采效率、岩性矿物相分析方面具有其它设备无法替代的优势；对珍贵的实体化石以及其他岩石样品的三维无损成像，在不破坏标本的前提下，全面同时获取化石或样品的外观形态和内部结构信息，并且可以实现化石形态和内部结构的三维可视化，几乎可以用于所有门类古生物学的研究。此外，在生命科学、油气地质学、沉积学、考古学、材料科学和电子学领域也广泛应用。

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